JKXT-VI型硅材料測(cè)試儀_硅材料電阻率測(cè)試儀
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產(chǎn)品名稱(chēng): JKXT-VI型硅材料測(cè)試儀_硅材料電阻率測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào): JKXT-VI型
產(chǎn)品展商: ghitest
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簡(jiǎn)單介紹
硅材料電阻率測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多功能綜合測(cè)試裝置，它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導(dǎo)體及太陽(yáng)能行業(yè)的硅料,硅棒硅塊硅片的電阻率型號(hào)測(cè)試。
JKXT-VI型硅材料測(cè)試儀_硅材料電阻率測(cè)試儀
的詳細(xì)介紹
硅材料測(cè)試儀簡(jiǎn)介：
硅材料電阻率測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多功能綜合測(cè)試裝置，它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導(dǎo)體及太陽(yáng)能行業(yè)的硅料,硅棒硅塊硅片的電阻率型號(hào)測(cè)試。
硅材料電阻率測(cè)試儀體積小，精度高，測(cè)量范圍寬，運(yùn)用四探針原理能夠測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻。本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試。
硅材料測(cè)試儀特點(diǎn)：
適中的體積和便攜性，便攜式，使用9V供電。
操作簡(jiǎn)單，測(cè)試快速。
同時(shí)檢測(cè)硅半導(dǎo)體材料的電阻率和型號(hào)兩項(xiàng)指標(biāo)。
硅材料電阻率測(cè)試儀采用220V交流電源供電硅材料綜合測(cè)試儀。
擁有較高的電阻率測(cè)試分辨率，可到0.001 歐姆.厘米”。
能的分辨電阻率在0.002 歐姆.厘米以上的硅半導(dǎo)體材料型號(hào)。
*立的P/N 型重?fù)礁婢O(shè)置，便于工廠大規(guī)?？焖龠x料。
具有電阻率及型號(hào)測(cè)試功能，適合分選型號(hào)，并能夠測(cè)試并顯示出電阻率的值。
預(yù)設(shè)樣片厚度，自動(dòng)修正，直讀電阻率
報(bào)警門(mén)限預(yù)設(shè)0-1.0，按0.1步進(jìn)，0不報(bào)警
整機(jī)尺寸：92×140×24 mm
電阻率:0.01-50歐姆厘米
P/N型號(hào):0.1歐姆厘米<電阻率<500歐姆厘米