NIBJ-2948A型晶閘管綜合參數(shù)測(cè)試儀|晶閘管參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)
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產(chǎn)品名稱: NIBJ-2948A型晶閘管綜合參數(shù)測(cè)試儀|晶閘管參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào): NIBJ-2948A型
產(chǎn)品展商: ghitest
產(chǎn)品文檔: *相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
晶閘管參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是用于測(cè)量晶閘管的通態(tài)、斷態(tài)、控制常用靜態(tài)參數(shù)的綜合性參數(shù)測(cè)量?jī)x器。測(cè)試原理及方法依據(jù)GB/T 15291-94《半導(dǎo)體器件 第六部分 晶閘管》。此系統(tǒng)可以快速、準(zhǔn)確、面的對(duì)晶閘管進(jìn)行參數(shù)測(cè)試和分析測(cè)試。**適合器件生產(chǎn)廠家、監(jiān)測(cè)部門和使用廠家進(jìn)行生產(chǎn)測(cè)試、評(píng)估、入廠檢驗(yàn)和性分析測(cè)試。
NIBJ-2948A型晶閘管綜合參數(shù)測(cè)試儀|晶閘管參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)
的詳細(xì)介紹
晶閘管綜合參數(shù)測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
晶閘管參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是用于測(cè)量晶閘管的通態(tài)、斷態(tài)、控制常用靜態(tài)參數(shù)的綜合性參數(shù)測(cè)量?jī)x器。測(cè)試原理及方法依據(jù)GB/T 15291-94《半導(dǎo)體器件 第六部分 晶閘管》。此系統(tǒng)可以快速、準(zhǔn)確、面的對(duì)晶閘管進(jìn)行參數(shù)測(cè)試和分析測(cè)試。**適合器件生產(chǎn)廠家、監(jiān)測(cè)部門和使用廠家進(jìn)行生產(chǎn)測(cè)試、評(píng)估、入廠檢驗(yàn)和性分析測(cè)試。
目前對(duì)晶閘管參數(shù)的測(cè)試基本上還是采用指針式儀表和手動(dòng)操作，此方法讀數(shù)慢而且不夠準(zhǔn)確，操作也比較繁瑣，不能適應(yīng)目前自動(dòng)化、大規(guī)模的生產(chǎn)方式。我們研制的晶閘管參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)采用主從式設(shè)計(jì)，儀器采用***微控制器控制，配備大液晶顯示器，可以*立工作；也可以使用PC機(jī)控制操作，使用*加方便。
晶閘管綜合參數(shù)測(cè)試儀參數(shù)：
控制觸發(fā)電壓VGT
測(cè)量范圍：0～2.5V
測(cè)量誤差：≤±3%
控制觸發(fā)電流IGT
測(cè)量范圍：0～500mA
測(cè)量誤差：≤±3%
維持電流IH
測(cè)量范圍：0～500mA
測(cè)量誤差：≤±3%
通態(tài)峰值電流ITM
測(cè)量范圍：0～200A
測(cè)量誤差：≤±5%
通態(tài)峰值電壓VTM
測(cè)量范圍：0～2.5V
測(cè)量誤差：≤±5%
斷態(tài)重復(fù)峰值電壓VDRM
測(cè)量范圍：0～2000V
測(cè)量誤差：≤±5%
斷態(tài)重復(fù)峰值電流IDRM
測(cè)量范圍：0～10mA
測(cè)量誤差：≤±5%
反向重復(fù)峰值電壓VRRM
測(cè)量范圍：0～2000V
測(cè)量誤差：≤±5%
反向重復(fù)峰值電流IRRM
測(cè)量范圍：0～10mA
測(cè)量誤差：≤±5%
晶閘管綜合參數(shù)測(cè)試儀注意事項(xiàng)：
1.測(cè)試結(jié)束將軟件關(guān)閉，關(guān)閉機(jī)器電源，從測(cè)試盒上拔下器件。
2.器件連續(xù)測(cè)試時(shí)，中間需要間隔幾秒鐘。某些器件的VDRM和VRRM值較高（例如高于1000V），那么這兩個(gè)參數(shù)需要單*測(cè)量，否則干擾比較大。
3.儀器如果長(zhǎng)期閑置，請(qǐng)每周開(kāi)機(jī)一到兩次，每次半小時(shí)。