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產(chǎn)品名稱: SSR-E2太陽光譜反射率儀 美國
產(chǎn)品型號(hào): SSR-E2
產(chǎn)品展商: 其它
產(chǎn)品文檔: *相關(guān)文檔
簡單介紹
產(chǎn)品簡介：
太陽光譜反射率儀提供準(zhǔn)確的材料漫反射和鏡面反射測量，材料樣品厚度可至6.4mm，太陽反射比和吸收比到0.001，重復(fù)性達(dá)到0.003。
采用鎢絲提供漫反射光源，測量4個(gè)濾光探測器、20度近法線入射角的樣品輻射反射。探測器主要覆蓋紫外、藍(lán)光、紅光和IR光譜范圍。2個(gè)額外的探測器用來重采樣低色溫情況下紅光和IR光源。漫反射和鏡面反射標(biāo)準(zhǔn)體隨機(jī)提供，標(biāo)準(zhǔn)體通過美國National Bureau of Standards Materials 標(biāo)定，儀器經(jīng)過標(biāo)準(zhǔn)體定標(biāo)后即可開始測量。
SSR-E2太陽光譜反射率儀 美國
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品簡介：
太陽光譜反射率儀提供準(zhǔn)確的材料漫反射和鏡面反射測量，材料樣品厚度可至6.4mm，太陽反射比和吸收比到0.001，重復(fù)性達(dá)到0.003。
采用鎢絲提供漫反射光源，測量4個(gè)濾光探測器、20度近法線入射角的樣品輻射反射。探測器主要覆蓋紫外、藍(lán)光、紅光和IR光譜范圍。2個(gè)額外的探測器用來重采樣低色溫情況下紅光和IR光源。漫反射和鏡面反射標(biāo)準(zhǔn)體隨機(jī)提供，標(biāo)準(zhǔn)體通過美國National Bureau of Standards Materials 標(biāo)定，儀器經(jīng)過標(biāo)準(zhǔn)體定標(biāo)后即可開始測量。
默認(rèn)操作模式下，儀器每完成一個(gè)測量循環(huán)的時(shí)間為8秒鐘，鎢燈亮6秒的同時(shí)并記錄檢測器偏移值，燈亮兩秒鐘后6個(gè)探測器進(jìn)行反射率測量并存儲(chǔ)，計(jì)算太陽反射比并顯示在LCD上，然后關(guān)閉光源。通過鍵盤可切換6個(gè)探測器的反射比或吸收比顯示。
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：美國ASTM C1549-04標(biāo)準(zhǔn)和ASTM E1980-01標(biāo)準(zhǔn)。
參數(shù)：
定制測量頭：標(biāo)配測量頭用來測量平面樣品材料，可定制測量頭用來測量曲面材料樣品，如13mm直徑圓柱面。
手 柄：便于測量使用
12V便攜供電套裝：可連續(xù)測量5個(gè)小時(shí)的12V電池、充電器、運(yùn)輸箱
分 辨 率：LCD顯示反射比、吸收比和透射比至0.001
重 復(fù) 性：±0.003
準(zhǔn) 確 性：±0.002
漂 移：5分鐘預(yù)熱，漂移小于每小時(shí)±1%或者讀數(shù)+0.003
溫 度：電子組件高操作溫度60℃，測量頭高50℃
濕 度：80%
標(biāo) 準(zhǔn) 體：提供漫反射和鏡面反射標(biāo)準(zhǔn)體，經(jīng)過NBS定標(biāo)
測量端口：1英寸直徑，樣品直徑1.1英寸，
光 源：插拔式可換鎢絲燈
供 電：100-240VAC**電源
線 纜：標(biāo)配長度1.5m，可選長度10m
重 量：測量頭0.9kg，電子模塊1.8kg，透射率附件4.5kg
透射率測量附件：SSR-T透射率測量附件可以和SSR-R反射測量頭兼容進(jìn)行樣品太陽輻射透射率測量，透射率測量角度從法線方向至60°可調(diào)，采用漫反射光源 照明并測量。
應(yīng)用領(lǐng)域：
航空領(lǐng)域：熱控制涂層
控制領(lǐng)域：鍍膜、涂層
太陽能領(lǐng)域：吸收涂層、反射涂層、鏡面和反射鏡
訂貨指南：
太陽光譜反射率儀：包括電子模塊，反射率測量頭，2個(gè)白瓷體，1個(gè)鏡面標(biāo)準(zhǔn)體，黑體，6’信號(hào)電纜，鹵素光源，光譜性能標(biāo)準(zhǔn)，**電源，電源線和運(yùn)輸箱。
太陽光譜反射率儀：包括電子模塊，具有手柄的反射率測量頭，可實(shí)現(xiàn)5個(gè)小時(shí)連續(xù)測量的12v電池和充電器，2個(gè)白瓷體，1個(gè)鏡面標(biāo)準(zhǔn)體，黑體，6’信號(hào)電纜，鹵素光源，光譜性能標(biāo)準(zhǔn)。**電源，電源線和運(yùn)輸箱。
可選項(xiàng)：
透射率測量附件。
