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產(chǎn)品資料

DATA-206晶閘管dv|dt測(cè)試儀

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產(chǎn)品名稱: DATA-206晶閘管dv|dt測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào): DATA-206
產(chǎn)品展商: ghitest
產(chǎn)品文檔: *相關(guān)文檔

簡(jiǎn)單介紹

產(chǎn)品簡(jiǎn)介: 1.本儀器是晶閘管斷態(tài)電壓臨界上升率dv/dt參數(shù)的測(cè)試設(shè)備。適用于交流固態(tài)繼電器、**晶閘管、雙向可控硅以及可控硅型光電耦合器的dv/dt參數(shù)測(cè)試。


DATA-206晶閘管dv|dt測(cè)試儀  的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
1.本儀器是晶閘管斷態(tài)電壓臨界上升率dv/dt參數(shù)的測(cè)試設(shè)備。適用于交流固態(tài)繼電器、**晶閘管、雙向可控硅以及可控硅型光電耦合器的dv/dt參數(shù)測(cè)試。
2.本測(cè)試儀采用單片機(jī)控制,能夠?qū)y(cè)試條件及測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行運(yùn)算;從而使得測(cè)試結(jié)果能夠直接讀出,免去了繁瑣的查表和運(yùn)算。
3.單片機(jī)的數(shù)據(jù)處理和優(yōu)化功能,**降低了電路分布參數(shù)對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,使得測(cè)試結(jié)果*加準(zhǔn)確。
4.由于該儀器的時(shí)間常數(shù)調(diào)整范圍大、檔位密集,對(duì)測(cè)試電壓、時(shí)間常數(shù)和測(cè)量結(jié)果進(jìn)行數(shù)字顯示,從而使得儀器的測(cè)量精度*高、操作*加簡(jiǎn)便和快捷。
5.其檢測(cè)原理采用JB/T7626-1994標(biāo)準(zhǔn)推薦的方法。是固態(tài)繼電器、電力半導(dǎo)體晶閘管生產(chǎn)廠家和使用單位為**的檢測(cè)設(shè)備。
參數(shù):
測(cè)試輸出電壓:2kV±5%
電壓測(cè)量誤差:±(讀數(shù)×2%+1)V
時(shí)間常數(shù)調(diào)整范圍:0.25-8μS
斷態(tài)電壓臨界上升率dv/dt測(cè)量范圍:0-4000V/μS
工作電源:AC 220V±10% 50Hz
工作溫度:0-40℃
整機(jī)功耗:小于150VA
整機(jī)尺寸:370×390×170mm

整機(jī)重量:11Kg

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