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NIB-3195A型D/A測(cè)試儀_A/D測(cè)試儀
A/D測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
本測(cè)試儀可測(cè)試12位及以下A/D、D/A轉(zhuǎn)換器的靜態(tài)參數(shù)，可用于A/D、D/A的驗(yàn)收測(cè)試及**應(yīng)用測(cè)試。
A/D D/A測(cè)試儀是參考美國GR1731測(cè)試系統(tǒng)的模式，采用模塊化結(jié)構(gòu)，并繼承了中小規(guī)模數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)的優(yōu)點(diǎn)而開發(fā)出的小型線性IC測(cè)試儀。
測(cè)試原理相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)及器件廠商的測(cè)試規(guī)范；
A/D測(cè)試儀功能特點(diǎn)：
1.可測(cè)試直接型及復(fù)用型A/D、D/A
2.D/A轉(zhuǎn)換器可測(cè)試電壓型\電流型
3.可測(cè)試多通道A/D、D/A轉(zhuǎn)換器
4.可測(cè)試不同碼制的轉(zhuǎn)換器，二進(jìn)制碼、BCD碼、2421碼、格雷碼
5.符號(hào)-幅值碼、1的補(bǔ)碼、2的補(bǔ)碼
6.測(cè)試方法靈活、面
7.線形度、微分線形度測(cè)試提供正常碼、碼、自定義**碼測(cè)試
8.數(shù)學(xué)和、測(cè)試和測(cè)試
9.多5種電源條件下的測(cè)試
10.測(cè)量電壓、施加電壓精度高，滿足12位A/D、D/A器件的測(cè)試要求
11.3組具有測(cè)流能力的程控電源，16個(gè)可編程數(shù)字I/O通道
12.基于Windows的控制軟件，窗口填表式編程，編程方法易于掌握，編程效率高
13.系統(tǒng)自動(dòng)校準(zhǔn)，測(cè)試精度
14.配有AVP、OVP適配器，方便計(jì)量驗(yàn)證
A/D測(cè)試儀主要參數(shù)：
電源電流：(+Icc1、-Icc1、Icc2)
參考電壓：(Vref)
失調(diào)電壓：(Zero)
增益誤差：(Gain)
線性誤差：(Linearity)
線性誤差：(Differential)
靈 敏 度：(dFSV1+、dFSV1-、dFSV2+)
管腳參數(shù)：(Iil、Iih、Voh、Vol)
測(cè)量量程                                       精度
±（5.0V～10.2V）                    ±（0.025%Rdg＋472uV）
±（2.5V～5.0V）                      ±（0.025%Rdg＋236uV）
±（<2.5V） 　　                      ±（0.025%Rdg＋196uV）
測(cè)流指標(biāo)                                       精度
（2.5mA～5.1mA）FSR            ±（0.05%Rdg＋236nA）
（1.25mA～2.5mA）FSR          ±（0.05%Rdg＋118 nA）

（<1.25mA）FSR 　　　          ±（0.05%Rdg＋98 nA）

NIB-3195A型D/A測(cè)試儀_A/D測(cè)試儀